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環(huán)境應力篩選（ESS）中的“潛在缺陷

發(fā)布時間： 2016-08-15　　點擊次數： 2254次

環(huán)境應力篩選(ESS)中的“潛在缺陷”是啥？

環(huán)境應力篩選(ESS)是通過向電子產品施加合理的環(huán)境應力和電應力，將其內部的“潛在缺陷”激發(fā)成為故障，并通過檢測發(fā)現和排除的過程，是一種工藝手段。在制定ESS方案前，首先應研究產品缺陷，即研究產品缺陷是開展ESS的前提。根據缺陷特點，可將產品缺陷按以下方式分類：

1．按引入缺陷的源頭分類，可分為設計缺陷、生產缺陷、元器件及原材料缺陷。

2．按可檢測程度分類，可分為明顯缺陷與潛在缺陷。

3．按ESS效果分類，可分為ESS能激發(fā)和導致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導致故障的缺陷。

下表給出了ESS與“潛在缺陷”的關系。

缺陷分類

元器件缺陷

設計缺陷

生產缺陷

ESS作用

發(fā)現缺陷手段

明顯缺陷

可能導致故障的缺陷

可檢測出

可檢測出

可檢測出

能激發(fā)

檢驗

不能導致故障的缺陷

可檢測出

可檢測出

可檢測出

不能激發(fā)

檢驗

潛在缺陷

可能導致故障的缺陷

不能測出

不能測出

不能測出

能激發(fā)

ESS

不能導致故障的缺陷

不能測出

不能測出

不能測出

不能激發(fā)

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